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　　PCT高压加速老化试验箱与HAST试验箱主要作用是用来测试半导体封装的湿气能力，待测产品被置于严苛的温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体.广泛应用于多层线路板，IC封装，LED屏幕，LED，半导体，磁性材料，钕铁硼，稀土等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性.常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境因素(如:温度)与工作因素(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

　　那么PCT高压加速老化试验箱与HAST试验箱到底有些什么区别，为方便客户选型,艾思荔检测仪器做出以下简单描述，希望能够帮到客户选型:

　　PCT高压加速老化试验箱的主要功能是:压力是对应温度饱和压力显示，湿度也是对应该温度条件下的饱和蒸汽压力。换句话说饱和蒸汽温度、饱和蒸汽湿度、饱和蒸汽压力是相对应的。

　　HAST试验箱的主要功能是:温度，压力，湿度随用户试验条件都可以调节，不受饱和蒸汽压力和饱和蒸汽湿度的影响，即为非饱和控制。换句话说:试验温度，压力，湿度随用户试验条件是可以调节。此时会存在一个问题:非饱和状态下的湿度的准确性的问题，艾思荔检测仪器所使用的湿度检测装置是根据试验箱内真实环境通过干湿球对比出来显示和控制的，不是通过换算关系显示出来并控制，其准确性可以得以保障。